詳細(xì)摘要: hast老化試驗(yàn)箱是一種用于模擬電子元器件、機(jī)械零件等在高壓力、高溫、高濕度等惡劣環(huán)境下長期工作的設(shè)備,從而分析其使用壽命、故障分布函數(shù)、失效率上升的原因等
產(chǎn)品型號(hào):所在地:東莞市更新時(shí)間:2024-05-01 在線留言印前設(shè)備 印刷機(jī)械 印后設(shè)備 裝訂設(shè)備 廣告設(shè)備 辦公設(shè)備 印刷機(jī)械配件 其它印刷相關(guān)器材 其它印刷設(shè)備